工控传动电子元器件类 SANKEI三桂探针CP40-DL-SPH1杨：181-0560-8753

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简介

SANKEI三桂探针CP40-DL-SPH1SANKEI三桂探针CP40-DL-SPH1SANKEI三桂探针CP40-DL-SPH1SANKEI 三桂探针 CP40-DL-SPH1 是一款弹簧外置型一体探针，头部为 SPH1（大半球头）设计，适配大电流、高压力测试场景，常用于汽车电子、工业控制模块等精密检测。参数类别具体数值安全电…

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产品详情

SANKEI三桂探针CP40-DL-SPH1

SANKEI 三桂探针 CP40-DL-SPH1 是一款弹簧外置型一体探针，头部为 SPH1（大半球头）设计，适配大电流、高压力测试场景，常用于汽车电子、工业控制模块等精密检测。

参数类别	具体数值
安全电流	7A（连续通电 1 小时，温升≤80℃；脉冲工况可超 3 倍）
耐温范围	≤100℃
弹性与行程	移动距离 5.5mm；弹簧常数 90g/mm；初接触压力 735g，2/3 压缩压力 1050g，全压缩压力 1230g
尺寸规格	适配压入穴径 3.19-3.2mm，最小安装间距 4.5mm；适配受体外径 3.5mm
材质与接触	针杆为超硬钨合金，头部镀金层≥1μm，接触电阻≤1Ω
适配配件	适配 AS-40 (15) 端子、TA35T 端子，可实现电线焊接连接

核心特点

高压力大电流适配：SPH1 头型搭配 90g/mm 高弹簧常数，全压缩压力达 1230g，适合需大接触力的高功率测试场景，如汽车电池管理系统（BMS）、电机控制器等大电流接口测试，7A 安全电流可稳定满足持续通电需求。
头部设计优化接触：大半球头（SPH1）设计增大接触面积，降低接触电阻，提升信号传输稳定性，同时减少对被测件表面的损伤，适配平面、弧形等多种被测表面形态。
结构可靠维护便捷：外弹簧式一体结构，无松动风险，降低固有电阻，保障测试稳定性。模块化设计使组件更换便捷，适配标准测试夹具的 2.54mm 节距布局，安装精度高，适配密集型测试场景。