仪器仪表类日本KITA喜多KLS050-001CA/KLS080-001CA高周波测试针

日本KITA喜多KLS050-001CA/KLS080-001CA高周波测试针

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合肥栗山销售日本KITA喜多KLS050-001CA/KLS080-001CA高周波测试针详询胡 181/0560/8873

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日本KITA喜多KLS050-001CA/KLS080-001CA高周波测试针

特長

1. 短寸構造により高周波の信号ロスを抑制、高周波測定精度を確保

2. プランジャ・バレルに金メッキ処理を採用、接触抵抗が安定し耐酸化性に優れる

3. 内蔵バネにより一定の接触荷重を維持、繰返し接触に対する耐久性が高い

4. 狭ピッチ対応の細径設計、プローブカードへの高密度実装が可能

5. 広い温度範囲で安定動作、半導体テスト環境に適合

主仕様

型式：KLS050-001CA　対応ピッチ：0.5mm

型式：KLS080-001CA　対応ピッチ：0.8mm

全長：1.5mm、使用時ストローク：1.1mm

動作温度範囲：-45℃～125℃

バネ荷重：動作ストローク時 26gf

耐久回数：30 万サイクル

表面処理：金メッキ

用途：半導体デバイス高周波電気特性検査、プローブカード用

用途

半導体チップ、パッケージ部品の高周波信号試験、プローブカード搭載、ウェハテスト、高速デバイスの電気検査。

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